公益社団法人 日本顕微鏡学会・電子顕微鏡解析技術分科会では電子顕微鏡解析技術フォーラムを開催しています。

  電子顕微鏡解析技術分科会の主旨

   2021年電子顕微鏡解析技術フォーラム

日本顕微鏡学会・電子顕微鏡解析技術分科会では、機能性材料や電子デバイスの評価に関する身近な問題点を
ざっくばらんに話し合う場として《電子顕微鏡解析技術フォーラム》を開催しています。

本フォーラムでは、例年、参加者が会場に集まりFace to Faceでの議論を行っておりますが、

今年度も新型コロナ感染拡大防止対策として、オンラインで開催します。

今回のフォーラムは、テーマを「全ての結果は試料作製が握っている!TEM試料作製方法の古典から最新まで!」と題し、
電子顕微鏡観察で材料や現象の真の姿を捉えるために最も重要な技術となる試料作製法を取り上げます。

代表的な電子顕微鏡観察試料作製法として、FIB(Ga, Xe-Plasma)Arイオンミリング法、電解研磨法を取り上げ、
各分野のエキスパートの方々より、基本原理から実際の適用事例、ダメージやアーティファクト等の問題点と対策等についてご講演頂きます。
講演内容に関して、参加者の皆様からの質問をいただきながら、活発な議論を交わして、
日頃の電顕業務の問題解決の糸口が得られる場となれば幸いです。
電子顕微鏡に携わる皆様、ふるってご参加ください!


1.
主 催:公益社団法人 日本顕微鏡学会・電子顕微鏡解析技術分科会

2.
日 時:2021824日(13:00 17:00(予定)
                       
3.
開催形式:オンライン開催(Web会議システムTeams

4.
プログラム

■チュートリアル

FIBの基礎 −観察から薄膜作製まで−                                                           渡邉 慶太郎(日立ハイテク)

■チュートリアル

プラズマイオンFIBによる高品質TEM試料作製                                                  村田 薫(サーモフィッシャーサイエンティフィック

Arイオンを用いたBIB法とTEM/SEM試料作製                                                   佐々木 義和(日本電子)

電子顕微鏡観察試料作製のための電解研磨法 〜基礎から実践まで〜                  宮澤 知孝(東京工業大学)

5.
参加費:無料


6.
定 員:150

7.
申込み期間:20218月初旬〜817日 (定員になり次第締め切ります)

   申込み方法:8月初旬に電子顕微鏡解析技術フォーラムHP上にてお申込みフォームのURLを公開いたします。

   サイトにアクセスして頂き、必要事項をご記入の上、お申込みください。

8.
問い合わせ先および申込み先:
  日鉄テクノロジー(株) 水尾 有里 mizuo.yuri.8dg@nstec.nipponsteel.com
   電話: 0439-80-2866 ファクシミリ: 0439-80-2733

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電子顕微鏡解析技術分科会責任者> 丸山秀夫(カネカテクノリサーチ)
実行委員長:遠藤 徳明(日本電子)
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電子顕微鏡解析技術フォーラム実行委員> 石丸 雅大(サーモフィッシャーサイエンテフィック)、乾 光隆(セイコーエプソン)、木村 耕輔(東レリサーチセンター)、
工藤 修一(キオクシア)、志摩 会実佳(東芝ナノアナリシス)、白井 学(日立ハイテグ)、高橋 知里(産総研)、長澤 忠広(ライカマイクロシステムズ)、
水尾 有里(日鉄テクノロジー)、宮澤 知孝(東京工業大学)、武藤 俊介(名古屋大学)、村上 和歌子(リコー)、吉田 誠(旭化成)
和田 充弘(三井金属)

  今までの電子顕微鏡解析技術フォーラム